美國(guó)分散科技公司（DTI）專(zhuān)注于非均相體系表征的科學(xué)儀器業(yè)務(wù)。 DTI開(kāi)發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應(yīng)用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布、 zeta電位、流變學(xué)、固體含量、孔隙率，包括CMP漿料，納米分散體，陶瓷漿料，電池漿料，水泥家族，藥物乳劑等，并可應(yīng)用于多孔固體。

DT系列產(chǎn)品特性：

1.  能分析多種分散物的混合體 
2.  無(wú)需依賴(lài)Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 
3.  可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系 
4.  可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 
5.  可精確測(cè)量無(wú)水體系 
6.  樣品的高濃度可達(dá)50％（體積比）,被測(cè)樣品無(wú)     需稀釋?zhuān)瑢?duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量 
7.  具有自動(dòng)電位滴定功能

DT-330性能參數(shù)：

1.      采用電聲測(cè)量技術(shù)進(jìn)行zeta電位測(cè)量

2.      超聲探頭（Zeta Probe）直接測(cè)量原始樣品的zeta電位

3.      用于懸浮液和乳液表征；可以是水相，極性和非極性溶劑

4.      Zeta電位測(cè)量范圍：無(wú)限制；低表面電荷可低至0.1mV

5.      不用稀釋?zhuān)瑴y(cè)量原濃樣品：0.1～50％(體積百分?jǐn)?shù))

6.      小樣品量： 2ml

7.      可測(cè)量動(dòng)態(tài)遷移率和雙電層厚度（Debye Length， 德拜長(zhǎng)度）

8.      通過(guò)Access數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行數(shù)據(jù)管理

9.      可選自動(dòng)滴定系統(tǒng)（DT-310）

10.    能夠用于幾乎所有類(lèi)型的多相異構(gòu)系統(tǒng),,包括顆粒、沉積物和多孔材料

11.    包括高頻電導(dǎo)率探頭，可以通過(guò)利方法測(cè)量孔隙率

12.    通過(guò)電聲電振法可以測(cè)量多孔材料的表面zeta電位

13.    在用膠體振動(dòng)電流 (CVI) 方式測(cè)定原濃體系的zeta電位時(shí),輸入電導(dǎo)率值可計(jì)算雙電層厚度及粒子表面電荷密度